元器件受控跌落測(cè)試儀

元器件受控跌落測(cè)試儀

概述

豪恩系列元器件受控跌落測(cè)試儀適用于行動(dòng)電話（手機(jī)）、手機(jī)鋰電池、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講電話、MP3等小型電子產(chǎn)品配合萬(wàn)向調(diào)節(jié)裝置可完成0度、45度、90度菱、角、面跌落。

特點(diǎn)

• 三個(gè)真空吸盤自由電控切換（各自獨(dú)立）
• 每次跌落完畢，自動(dòng)返回到吸附位；
• 跌落高度、吸附高度可設(shè)定，跌落次數(shù)顯示/清零；
• 安全門保護(hù)功能（全罩式）；
• 采用真空吸盤吸附，配合萬(wàn)向調(diào)節(jié)裝置可完成0°、45°、90°面棱角跌落；
• 被測(cè)體于300mm高度釋放，產(chǎn)品跌落角度接近試驗(yàn)設(shè)定角度；

主要技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號(hào)：HE-DX-320

跌落測(cè)試點(diǎn)：面、棱、角

可調(diào)角度：0°、45°、90°

跌落角度誤差：1°～3°；

跌落高度：300～2000mm；

測(cè)試負(fù)載：2KG；

落下高度設(shè)定：LED數(shù)字顯示高度；

下線脫離高度：300mm；

計(jì)數(shù)器：0～99999999（可設(shè)定）

底板材料：大理石板

氣源：≧0.5MPa

控制面板：PLC編程觸摸屏控制